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日本精工 SFT9500膜厚仪

人气:1280 发布时间:2009-07-14 10:16

关键词:其它

产品型号:

应用领域:电磁辐射

产品价格:面议

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SFT9500 高性能X射线荧光镀层厚度测量仪
产品副名称:采用X射线聚光系统,适用于微小样品的镀层厚度测量及RoHS分析
产品型号:SFT9500
产品特点:

★  X射线发生系统采用了聚光导管
      由于采用了X射线聚光导管方式,可得到以往十倍以上的X射线强度,从而可以提高微小样品的膜厚测量及有害物质测量的精度。

★  无需液氮的半导体检测器 
      在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时,高分辨率的检测器是必不可少的。SFT9500的检测器不但可以达到高分辨率,而且可以实现高计数率。同时,由于使用了电子冷却方式,所以无需液氮。

★  能谱匹配软件(选配件)
       可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。

★  块体检量线软件(适用于电镀液分析) (选配件)
      可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。

★  绘图软件(选配件) 
       将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。

★  电镀液容器(选配件)

★  各种标准物质(选配件)

SFT9500产品规格

可测量元素

原子序数13(Al)~83(Bi)

X射线聚光

聚光方式

X射线源

管电压:50kV
管电流:1mA

检测器

Vortex®检测器(无需液氮)

分析范围

Φ0.1mm、Φ5mm

样品观察

彩色CCD摄像头(附变焦功能)

滤波器

3种模式自动切换

样品室

样品平台 240(W)×330(D)mm
移动量      X:220mm  Y:150mm   Z:150mm
载重量      10kg

重量

123kg(不含电脑)

X-ray Station

台式电脑 19"LCD
(OS; MS-Windows XP®)

膜厚测量软件

薄膜FP法(最多五层,各层十种元素)
检量线法(单层、双层、合金膜厚成分)

定量分析功能

块体FP法

统计处理功能

MS-EXCEL®

报告制作

MS-WORD®

安装环境

温度:10℃~35℃(±)5℃
湿度:35%~80%

使用电源

接地三头插座 AC100、15A


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